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正側(cè) 背

集成電路高溫老煉系統(tǒng)

符合標準: MIL-STD-883D，MIL-M-38510，GJB548，GJB597

集成電路高溫老煉系統(tǒng)可對各種封裝形式(DIP、SOP、PLCC、LCC、QFP、QFN、PBA、BGA、TO、SO)的模擬電路、數(shù)字電路、光電耦合器等施加單一信號源信號進行高溫工作壽命試驗、穩(wěn)態(tài)老煉篩選。

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其它資訊

產(chǎn)品型號展示

產(chǎn)品特點及功能

1.本系統(tǒng)試驗線路和試驗方法符合國軍標GJB360相關要求；
2.適用于各種軸向、徑向、表貼式等封裝形式的鉭電容器、陶瓷電容器進行高溫高壓電老煉試驗；
3.計算機程控模式，主控計算機采用高可靠的標準工業(yè)用計算機或根據(jù)需方要求配置標準商用計算機；
4.Windows操作系統(tǒng)專用軟件，類Windows的圖形用戶界面；
5.采用屏幕液晶顯示器，標準工控機鍵盤、鼠標進行操作。

技術(shù)參數(shù)

名稱	集成電路高溫老化系統(tǒng)
型號	LH6116
標準/條款	MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597
標配尺寸	寬130cm深140cm高195cm
供電要求	AC380V±5%，50Hz
功率	≤21KW
高溫箱品牌/型號	廣五所（GWS）PH201T
試驗倉尺寸	600W600D600H(mm)
溫度范圍	（環(huán)境溫度+20）℃~+150℃
溫度偏差/波動度	150℃±2.0℃（空載）/±0.5℃
電源數(shù)量	16臺
電壓范圍	0~10V
電流范圍	0~10A
最大功率	100W
獨立試驗區(qū)域	4-10個區(qū)
試驗通道數(shù)	8通道	16通道	20通道
單板工位數(shù)/總?cè)萘?/span>	56工位/448工位	56工位/896工位	56工位/1120工位
驅(qū)動板數(shù)量	8塊	16塊	20塊
電壓測量	2000.0V；分辨率：0.1V；精度：±1%±2LSB
漏電流測量	4mA；分辨率：0.01μA；精度：±1%±2LSB
老化板基板材質(zhì)	標配高Tg基板
老化板耐溫范圍	150℃/175℃可選
老化板尺寸	290600（mm）/280590mm